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國家環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-08-12 23:02
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國家環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)
我國環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn) 國家標(biāo)準(zhǔn)編號及名稱 | 采用 程度 | 對應(yīng)國際標(biāo)準(zhǔn)編號名稱 |
GB2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分 總則 | 等同 | IEC68-1-1988 環(huán)境試驗 **部分 總則 修正件1（1992） |
GB2422-1995 環(huán)境試驗 術(shù)語 | 等效 | IEC68-5-2-1990 環(huán)境試驗 第五部分起草試驗方法導(dǎo)則術(shù)語和定義 |
GB2423.1-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗A：低溫 | 等同 | IEC68-2-1-1990替代1974年版 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗A：寒冷 修正件1（1993），修正件2（1994） |
GB2423.2-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分 試驗方法 試驗B：高溫 | 等同 | IEC68-2-2-1974 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗B：干熱 修正件1（1993） 修正件2（1994） |
GB2423.3-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法 | 等效 | IEC68-2-3-1985 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ca：恒定濕熱 |
GB2423.4-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Db：交變濕熱試驗方法 | 等效 | IEC68-2-30-1985 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Db 及導(dǎo)則：交變試驗濕熱（12+12小時循環(huán)） 修正件1（1985） |
GB/T2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊 | 等同 | IEC68-2-27-1987 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ea及導(dǎo)則：沖擊 |
GB/T2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞 | 等同 | IEC68-2-29-1987 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Eb及導(dǎo)則：碰撞 |
GB/T2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品） | 等同 | IEC68-2-31-1969 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ec：傾跌與翻倒 修正件1（1982） |
GB/T2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ed和導(dǎo)則：自由跌落 | 等同 | IEC68-2-32-1975 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ed：自由跌落 修正件1（1982），修正件2（1990） |
GB2423.9-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設(shè)備用恒定濕熱 | 等同 | IEC68-2-56-1988 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Cb：恒定濕熱（主要用于設(shè)備） |
GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦） | 等同 | IEC68-2-6-1985 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fc及導(dǎo)則：振動（正弦） |
GB2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fd：寬帶隨機(jī)振動試驗方法 一般要求 | 等同 | IEC68-2-34-1973 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fd：寬帶隨機(jī)振動 一般要求 修正件1（1983） |
GB2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fda：寬帶隨機(jī)振動——高再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-35-1973 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fda：寬帶隨機(jī)振動 高再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdb：寬帶隨機(jī)振動——中再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-36-1973 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fdb：寬帶隨機(jī)振動 中再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fdc：寬帶隨機(jī)振動——低再現(xiàn)性 | 等同 | IEC68-2-37-1973 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fdc：寬帶隨機(jī)振動 低再現(xiàn)性 修正件1（1983） |
GB2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度 | 等同 | IEC68-2-7-1983 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ca及導(dǎo)則 恒加速度 |
GB2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗J和導(dǎo)則：長霉 | 等同 | IEC68-2-10-1988 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗J和導(dǎo)則：霉菌生長 |
GB/T 2423.17-93 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Ka：鹽霧試驗方法 | 等效 | IEC 68-2-11-1981 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ka：鹽霧 |
GB2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧、交變（氯化鈉溶液） | 等同 | IEC68-2-52-1996 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Kb：交變鹽霧（氯化鈉溶液） |
GB2423.19-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法 | 等效 | IEC68-2-42-1982 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗 |
GB2423.20-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd：接觸點和連接件硫化氫試驗方法 | 等效 | IEC68-2-43-1976 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Kd：接觸點和連接件的硫化氫試驗 |
GB2423.21-91 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M：低氣壓試驗方法 | 非等效 | IEC68-2-13-1983 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗M：低氣壓 |
GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法 | 等效 | IEC68-2-14-1984 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗N：溫度變化 修正件1（1986） |
GB2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Q：密封試驗方法 | 等同 | IEC68-2-17-1994替代1987年版 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Q：密封 |
GB2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射 | 等同 | IEC68-2-5-1975 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射 |
GB2423.25-92 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗方法 | 等效 | IEC68-2-40-1976 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗 修正件1（1983） |
GB2423.26-92 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗方法 | 等效 | IEC68-2-41-1976 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗 修正件1（1983） |
GB2423.27-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A/ZMD：低溫、低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法 | 等效 | IEC68-2-39-1976 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/AMD：低溫、低氣壓和濕熱連續(xù)綜合試驗 |
GB2423.28-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T：錫焊試驗方法 | 等效 | IEC68-2-20-1979 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗T：錫焊 修正件2（1987） |
GB2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U：引出端及整體安裝件長度 | 等同 | IEC68-2-21-1983 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗U：引出線和整體安裝件強(qiáng)度 修正件3（1992） |
GB2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則：在清洗中浸漬 | 等同 | IEC68-2-45-1980 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗XA及導(dǎo)則：在清洗中浸漬 修正件1（1993） |
GB2423.31-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法 | ||
GB2423.32-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ta：濕潤稱量可焊性試驗方法 | 等效 | IEC68-2-54-1985 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ta：錫焊、濕潤稱量法可焊性試驗 |
GB2423.33-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗方法 | ||
GB2423.34-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法 | 等效 | IEC68-2-38-1974 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗 |
GB2423.35-86 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗 | 等效 | IEC68-2-50-1983 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/AFc：低溫/振動（正弦）綜合試驗（散熱和非散熱試驗樣品通用） |
GB2423.36-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗 | 等效 | IEC68-2-51-1983 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗 |
GB2423.37-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L：砂塵試驗方法 | IEC68-2-68-1994 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗L：灰塵和沙?！∽ⅲ?7年報批等同采用 | |
GB2423.38-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R：水試驗 | 等效 | IEC68-2-18-1989 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗R和導(dǎo)則 水 修正件1（1993） |
GB2423.39-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee：彈跳試驗方法 | 等效 | IEC68-2-55-1987 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ee及導(dǎo)則：彈跳 |
GB/T2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱 | 等同 | IEC68-2-66-1994 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱（不飽和高壓蒸氣） |
GB/T2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法 | ||
GB/T2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法 | ||
GB/T2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 元件設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）中的動力試驗時的安裝導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-2-47-1982 環(huán)境試驗 **部分 試驗 元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、振動（Fc和Fd）和恒加速度（Ga）等動力試驗時的安裝導(dǎo)則 |
GB/T2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eg：撞擊 彈簧錘 | 等同 | IEC68-2-63-1991 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Eg：彈簧錘撞擊 |
GB/T2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序 | 等同 | IEC68-2-61-1991 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Z/ABDM：氣候順序 |
GB/T2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊——擺錘 | 等同 | IEC68-2-62-1991 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ef：擺錘撞擊 修正件1（1993） |
GB/T2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fg：聲振 | 等同 | IEC68-2-65-1994 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fg：振動 誘發(fā)噪聲 |
GB/T2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ff：振動 時間歷程法 | 等同 | IEC68-2-57-1989 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ff：振動 時間歷程法 |
GB/T2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Fe：振動 正弦拍頻法 | 等同 | IEC68-2-59-1990 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fe：振動 正弦拍振法 |
GB/T2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗 | 等同 | IEC68-2-67-1995 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Cy：恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗 |
GB/T2423.XX-19XX 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Fh：振動 寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-2-64-1993替代1989年版 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Fh：振動 寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則 |
GB/T2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗 | 等同 | IEC68-2-6-1995 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Ke：流動混合立體腐蝕試驗 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Td：表面安裝器件耐熔化金屬鍍層和表面焊接熱 可焊性試驗 | IEC68-2-58-1989 環(huán)境試驗 **部分 試驗 表面安裝器件（SMD）耐焊熱和金屬敷鍍層耐融熔的可焊性 | |
不采用 | IEC653-1979 超聲波清洗總則 | |
GB/T2423.XX 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Cy：濕熱恒定 | 等同 | IEC68-2-67-1995 環(huán)境試驗 **部分 試驗 試驗Cy：濕熱恒定 |
GB2423.1-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則 | 等同 | IEC68-3-1-1974 環(huán)境試驗 第三部分 背景材料 第1篇 寒冷和干熱 **次補(bǔ)充 68-3-1A（1978） |
GB/T2424.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 濕熱試驗導(dǎo)則 | 等效 | IEC68-2-28-1990 環(huán)境試驗 **部分 試驗 濕熱試驗導(dǎo)則 |
GB2424.5-81 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 傾跌與翻倒試驗導(dǎo)則 |